NPR-2500F  Negative Photoresist  耐酸负光阻

 使用特性:
1. 属液态负光阻,涂布时密着性优良,胶膜机械强度佳,耐高温与强酸。
2. 在酸性蚀刻液中,抗蚀性良好 (15-20% HF蚀刻液;etch 0.3 mm glass in 1 hr)。
3. 运用范围:玻璃板 or 芯片背面腐蚀加工;芯片封装凸块加工 (Flip Chip)等。
4. 可以水溶液DS-10显影与剥膜;有机溶液S-100剥膜 (不会腐蚀铝等金属层)。

 涂布方式:旋转等涂布【单层涂布厚度20 um – 800 rpm、60 sec;耐强酸可多层涂布增加胶膜厚→100um)。

干燥方式:适当软烤温度 (Soft BakeTemp.):65-85℃;时间:15-30分钟。

 曝光量:250-400 mj/cm2依基片反光度而定。

 曝光后静置:温度:室温;时间:5-15分钟。

 显影方式:
显影液DS-10(1:1) (不会腐蚀铝等金属层);室温;
显影时间:90-300秒;需DI Water Rinse Cycles。

 1. DS-10 or S-10剥膜液 (溶液不会腐蚀铝等金属层)。
2. 剥膜时间:90-300秒,需DI Water Rinse Cycles。
※ 请注意:S-100含有机溶剂,不适合应用于含有蓝膜 (PVC膜) 的制程 ※

 相关物理化学性质: